儀器設(shè)備：X 射線衍射分析儀（日本） 

分析內(nèi)容：X 射線衍射分析（XRD）物相定量分析、半定量分析、晶體結(jié)構(gòu)掃描

適用領(lǐng)域：各種礦物、巖石礦石、粉末、薄膜、材料等。第三方專業(yè)XRD 測(cè)試機(jī)構(gòu)。

主要服務(wù)科研院所，高等院校，企業(yè)等客戶。

檢測(cè)依據(jù)：

JY/T 009-1996《轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射法通則》
SY/T 5163-2018 沉積巖中黏土礦物和常見(jiàn)非黏土礦物 X 射線衍射分析方法

檢測(cè)儀器：日本理學(xué) D/MAX-2600 X光粉晶衍射儀

樣品實(shí)例：

頁(yè)巖礦物成分含量（XRD +分析）

黏土與非黏土礦物相對(duì)含量（%）：
方解石、白云山、石英、斜長(zhǎng)石、鉀長(zhǎng)石、黃鐵礦、菱鐵礦、黏土礦物
黏土礦物相對(duì)含量（%）：
高嶺石 、綠泥石、伊利石、伊/蒙間混層礦物

測(cè)試項(xiàng)目：

a. 常規(guī)廣角: 5--90°，小角：0.5--10°；
b. 常規(guī)測(cè)試速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角測(cè)試速率：1°/min, 0.5°/min
c. 該測(cè)試只得到樣品的XRD原始譜圖，不包括對(duì)數(shù)據(jù)的處理和分析。

測(cè)試結(jié)果給出的是RAW格式或txt格式測(cè)試結(jié)果。
文本格式文件可以用Search match分析軟件打開，origin軟件作圖；
RAW格式文件可以用jade分析軟件打開。

樣品要求：

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊狀、薄膜樣品、液體樣品可以涂在載玻片上干燥之后測(cè)試。
2. 粉末樣品：顆粒一般不超過(guò)75微米，手摸無(wú)顆粒感，較大需要適當(dāng)研磨，樣品用量一般0.5g以上。
3. 塊狀、薄膜樣品：
（1）至少有一表面為平整光潔平面。
（2）若為立方體則平面長(zhǎng)寬≤20mm，且厚度范圍50微米～15毫米；
（3）若為圓柱體則直徑≤20mm，高≤15mm。

X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問(wèn)題

（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。
（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。
（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。
（4）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。
（5）納米材料由于顆粒細(xì)小，極易形成團(tuán)粒，采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。

采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。